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涂層測厚儀/漆膜儀 型號:JK770-LS236

涂層測厚儀/漆膜儀 型號:JK770-LS236

簡要描述:
涂層測厚儀/漆膜儀 型號:JK770-LS236

技術參數
顯示屏
液晶屏+OLED耐低溫屏
主機尺寸
100* 60* 24mm
重量(含電池)
80g

產品時間:2023-06-16

訪問量:791

廠商性質:生產廠家

生產地址:

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涂層測厚儀/漆膜儀 型號:JK770-LS236

技術參數
顯示屏
液晶屏+OLED耐低溫屏
主機尺寸
100* 60* 24mm
重量(含電池)
80g

涂層測厚儀/漆膜儀 型號:JK770-LS236

測頭
紅寶石
測量原理
Fe:霍爾效應/NFe:電渦流效應
探頭類型
內置-體式
測量范圍
0.0um - 2000μm
0.1μm: (0um-99.9μm)
分辨率
1μm: (100μm- 999μm)
0.01mm: (1.00mm-2.00mm)
測量精度
≤土(39%讀數+2μm)
單位.
μm/ mil
測量間隔
0.5S
小測量區域
0=25mm
小曲率半徑
凸面: 5mm/凹面: 25mm
小基體厚度
Fe: 0.2mm/NFe: 0.05mm
供電方式
2節1.5V AAA堿性電池
工作溫度范圍
-20°C~50°C
-40°C~50°C
儲存溫度范圍
-20°C~60°C
-50°C~60°C


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