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薄膜測厚儀  ME04-C1216M  庫號:M317070

薄膜測厚儀 ME04-C1216M 庫號:M317070

簡要描述:
薄膜測厚儀 ME04-C1216M 庫號:M317070
二、基本技術要求
薄膜測厚儀主要用于對薄膜產品進行厚度檢測。
使用地點:廠房檢驗室
實驗環境:溫度 20±2℃ 濕度 50±5%

產品時間:2018-08-17

訪問量:2052

廠商性質:生產廠家

生產地址:

 薄膜測厚儀  ME04-C1216M  庫號:M317070  

一、 方案概述 
該技術方案根據隔膜產品厚度測試常規方式編寫,提供的薄膜厚度儀滿足日常厚度測量技術要求,同時滿足國標(GBT 6672-2001)規定的技術要求。薄膜厚度儀方案為多個部件的組合件,產品主要由C1216M 主機及其附屬件(整套系統由數顯箱,傳感器測頭,工作臺架和提升裝置及接口軟件)組成。 該套方案旨在滿足用戶隔膜產品厚度檢測要求,實現厚度檢測功能。 

 薄膜測厚儀  ME04-C1216M  庫號:M317070  
二、基本技術要求 
薄膜測厚儀主要用于對薄膜產品進行厚度檢測。 
使用地點:廠房檢驗室 
實驗環境:溫度 20±2℃ 濕度 50±5% 
基本性能應滿足以下要求: 
1、測量厚度范圍:>3um 
2、測量精度:0.01um 
3、產品在使用過程中不能出現任何事故,性能可靠,能長周期運行。 
4、測試軟件,能夠在測試過程中直觀顯示測試數據(數據傳輸至EXCEL表格或其他用戶位置),可用于后續統計分析。 

 薄膜測厚儀  ME04-C1216M  庫號:M317070  
三、 薄膜測厚儀技術參數描述 
薄膜厚度儀相關組件規格及技術參數如下: 
結構及設計特點 整套系統由數顯箱,傳感器測頭,工作臺架和提升裝置組成
數顯箱(C1216M)特性: 
a, 數顯箱采用LCD 顯示,帶模擬指針顯示和兩行數字顯示 
b, 5 個三色燈用于超差和處于公差極*的報警 
c, 靜態測量: ± A, ± B 和所有組合 
d, 動態測量:大值,小值,極差值,極和值,平均值 
e, 可通過按鍵或R232 接口連接設置軟件進行相關的設置與編程 
-傳感器測頭特性: 
a, 測量范圍±2mm 
b, 通過提升裝置實現抬升功能 
c, 測力標準為0.75N 
d, 測量精度:0.05um(±0.1mm 范圍內) 

工作臺架(820FC)特性: 
a, 工作范圍0-110mm 
b, 底座由淬硬不銹鋼制成 
c, 支撐桿為不銹鋼材質 

傳感器測頭(1301)特性:
工作量程:±1mm
支持手動提升線提升
大測量誤差:
0.5μm(±0.5mm 量程范圍內) 
1μm(±1mm 量程范圍內) 
樣品種類(儀器適用的分析樣品種類) 薄膜等
儀器的測量范圍 大量程±1mm
儀器的分辨率 0.01μm
溫度(或其它技術參數)范圍 工作于室溫狀態
儀器配置的主要附件及規格 見配置清單
測試的重復性誤差fw 0.1μm
鍵盤和顯示 LED 屏幕顯示
水、電、氣等外部條件要求 220V,50Hz,11W
外形尺寸 數顯箱:205mm x 160 mm x 165 mm 
工作臺架:155 mm x 100 mm x 216.5 mm 
重量 數顯箱:2.1Kg 工作臺架:2.6Kg
整套系統(數顯箱,傳感器測頭,工作臺架和提升裝置)
 

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